11月1日，在“中国电子电器检测科技高峰论坛”十佳论文线上评审会上，湖北省计量测试技术研究院光电子中心技术专家张灿的论文《辐射发射试验的测量不确定度分析》获评十佳论文，论文《辐射发射测试系统期间核查分析》获收录于《中国电子电器检测科技高峰论坛》论文集。两篇论文均为市场监管总局科研项目《光电模块电磁兼容快速检测方法研究》前期研究成果。
作为我国电子电器检验检测领域首个共商发展、交流创新的大平台，“中国电子电器检测科技高峰论坛”由中国检验检测学会电子电器分会举办，主要探讨研究我国电子电器检测技术的科技发展战略和科技创新路径。
《辐射发射试验的测量不确定度分析》以湖北省计量测试技术研究院十米法电磁兼容实验室辐射发射试验为例，通过对辐射发射试验的测量不确定度的分析，指出接收机的脉冲重复频率响应和测量场地校正系数引入的不确定度分量对结果的影响最大。论文对于明确辐射发射试验中关键影响因素，提升测试结果的可靠性有一定帮助，对于电子电器产品电磁辐射性能设计和质量控制具有一定指导意义。该论文获评十佳论文，充分说明了行业内对论文相关研究成果的重视和肯定。
此次获奖论文为基础，湖北省计量测试技术研究院将进一步加强电磁辐射试验技术研究，全面提升检验检测服务质量水平，努力为“光芯屏端网”产业质量提升提供更强支撑、更优环境。
加入收藏
微信公众号
计量资讯速递
